APS-100は、超音波減衰法を利用し、スラリーやエマルション、インクなどを希釈することなく、粒度分布を測定できます。攪拌、またはポンプ循環しながらの測定も可能で、沈降性の高いサンプルの粒度分布も測定できます。
測定セルにサンプルを注ぐか、ポンプを用いて循環させます。サンプルセル内には、超音波発信機及びトランスデューサと反射板が装着されています。セル内のサンプルに１～100MHzの超音波を発信し、サンプル間を通過した周波数ごとの減衰率を正確に測定します。サンプルと媒体のスペクルを取得し、ソフトウェア内で解析することで分布形状を仮定することなく、粒度分布を求めることができます。セル内には、撹拌子の他、温度計、電気電導度計、pH計を装着することが可能で、サンプルを攪拌しながら、温度、電気伝導度、pHも同時に測定することができます。
溶媒とサンプル懸濁液双方の減衰スペクトラムから、粒度分布を計算します。
30nmと300nmのシリカ粒子単品ずつと、混合試料を変えて測定した例です。APS-100は、独自のソフトウェアを使用することにより、事前に単峰性、二峰性などを仮定することなく、正確な粒度分布を測定します。
| 粒子径測定範囲 | 5 nm～100 μm |
|---|---|
| 適応試料濃度 | 0.1 Vol%～60 Vol% |
| 測定対応溶媒 | 水系（pH：0～14）、有機溶媒系の双方に対応 |
| 適応試料粘度 | 流動性があること（20,000 cp以下） |
| 必要サンプル容量 | 100 mL（標準）、50 mL（オプション） |
| 寸法（cm） | 47（W）×40（H）×61（D）cm |
